Typ logiky: Scan Test Device With Transceivers And Registers, Napájecí napětí: 4.5V ~ 5.5V, Počet bitů: 18, Provozní teplota: -40°C ~ 85°C, Typ montáže: Surface Mount, Balení / pouzdro: 64-LQFP,
Typ logiky: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, Napájecí napětí: 4.5V ~ 5.5V, Počet bitů: 8, Provozní teplota: -40°C ~ 85°C, Typ montáže: Surface Mount, Balení / pouzdro: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width),
Typ logiky: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, Napájecí napětí: 4.5V ~ 5.5V, Počet bitů: 8, Provozní teplota: -40°C ~ 85°C, Typ montáže: Surface Mount, Balení / pouzdro: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),
Typ logiky: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, Napájecí napětí: 4.5V ~ 5.5V, Počet bitů: 8, Provozní teplota: -40°C ~ 85°C, Typ montáže: Surface Mount, Balení / pouzdro: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),
Typ logiky: Scan Test Device With Transceivers And Registers, Napájecí napětí: 4.5V ~ 5.5V, Počet bitů: 18, Provozní teplota: -40°C ~ 85°C, Typ montáže: Surface Mount, Balení / pouzdro: 64-LQFP,
Typ logiky: Scan Test Device with Universal Bus Transceivers, Napájecí napětí: 4.5V ~ 5.5V, Počet bitů: 20, Provozní teplota: -40°C ~ 85°C, Typ montáže: Surface Mount, Balení / pouzdro: 64-LQFP,
Typ logiky: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, Napájecí napětí: 4.5V ~ 5.5V, Počet bitů: 8, Provozní teplota: -40°C ~ 85°C, Typ montáže: Surface Mount, Balení / pouzdro: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),